Рубрика: Электронная и оптическая микроскопия

Характеристики:

Пространственное разрешение: горизонтальное до 200 нм; осевое до 500 нм.
Широкий спектральный диапазон:
785 нм: 50 — 3700 см-1;
633 нм: 60 — 6700 см-1;
532 нм: 150 — 10000 см-1
Специальный монохроматор-спектрограф с уникальными характеристиками: Спектральное разрешение 0.25 см-1
Абсолютная точность по длине волны: не хуже 0.016 нм.
Площадь сканирования: 150 х 150 мкм. Система сканирования позволяет осуществлять быстрое
сканирование (1001 х 1001 точек за 3 секунды). Точность позиционирования 30 нм
Одновременный многофункциональный анализ:
– Рамановские измерения;
– люминесцентные измерения;
– измерения лазерного отражения и пропускания;
– трехмерные (3D) высококонтрастные изображения в отраженном свете; трехмерные (3D) Рамановские конфокальные измерения;
– информация о спектральных и поляризационных свойствах образцов

Области применения

• Анализ химического состава и физической структуры функциональных материалов, а также нано- и гетероструктур на их основе.
• Изучение химических и физических свойств новых материалов, определение напряжений и
  деформаций, оценка упорядоченности структуры.
• Идентификация материалов, определение фазового состава и распределения по образцу.
• Контроль процессов нанесения покрытий и исследования полимерных материалов, включая
  нанопленки.
• Многообразные приложения в биологии, в частности исследование тканей, клеток, раковых
  образований, результатов применения лекарственных препаратов

Возможности прибора:

Микроскоп FTIR-neaSNOM позволяет одновременно исследовать наноструктуру и
спектральные свойства широкого круга объектов. Он позволяет объединить
преимущества нескольких методов: оптической спектроскопии в видимом и ИК
диапазонах длин волн от 400 нм до 15,4 мкм, терагерцовой спектроскопии (волны
0.1-1.0 мм) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) с латеральным разрешением
сканирования до 1 нм и вертикальным разрешением 0.2 нм. Возможности прибора
позволяют получать спектральную информацию даже с единичной молекулы!
Данный прибор является, по сути, единственным эффективным методом
исследования структуры и физико-химических свойств поверхности образца с
одновременным получением спектральной информации о его составе.
Данный микроскоп позволит исследовать любые объекты, с которых можно снять
информативный ИК спектр (фактически весь набор органических и
неорганических соединений), получая информацию о их составе и структуре на
наноуровне.

Технические характеристики и назначение:

Доступный диапазон длин волн:	0.5 – 20 мкм с возможностью расширения видимого диапазона до 0.4 мкм, а также работы в терагерцовом диапазоне (0.1-3.0 THz)
Диапазон регистрации спектров ИК	500-4000 см-1
Разрешение сканирования:	Латеральное – предельное 0.4 нм (реальное зависит от зонда, в рутинных измерениях 10-15 нм) Вертикальное – 0.2 нм
Режимы сканирования:	Контактные, полуконтактные.
Круг исследуемых объектов:	Полупроводники, оксиды металлов, полимеры, практически любые органические и неорганические тонкие пленки, пластины, кристаллы, биомолекулы.
Получаемые на микроскопе данные	Топография поверхности Фазовый контраст Магнитные свойства и доменная структура материалов с нанометровым разрешением; Локальная твердость образцов с нанометровым разрешением; Измерение вязкости и картирование по поверхности с нанометровым разрешением; Локальное распределение потенциала (работа выхода) и локальная электропроводность (conductive AFM); Реальное распределение носителей зарядов в образцах полупроводниковых материалов; ИК-спектры с любой точки поверхности + картирование поверхности по любым выбранным полосам в ИК-спектре с латеральным разрешение не хуже 15 нм;

(Германия, 2008 г.)

Назначение: 

Универсальный микроскоп с эпифлуоресценцией позволяет работать с биологическими объектами в различных режимах съемки изображения. Оборудованный для всех методов контрастирования и исследования как в проходящем, так и отраженном свете: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, переменный контраст (varel-контраст), дифференциально-интерференционный контраст (DIC), поляризация, люминесценция. 

Характеристики:

• увеличение от х5 до х1000
• система освещения проходящего света: галогеновая лампа (12 В, 100 Вт). 
• модуль для флуоресцентного анализа: ртутная лампа с саморегулировкой
• 6-позиционное револьверное устройство смены светоделителей. 
• оптика высокого контраста, разрешения и цветовой коррекции (IC2S-оптика)

Zeiss LEO SUPRA 25 (Германия, 2008 г.)

Назначение: 

Позволяет получать качественное изображение нанообъектов: высокоэффективный детектор позволяет получать четкие изображения конкретных поверхностей при быстрой рентгенографии и элементном картировании. Обеспечивает превосходное разрешение во всем диапазоне высокого напряжения. Большая 5-осевая моторизованная декартова ступень особенно полезна для одновременной обработки нескольких мелких образцов. Это одинаково полезно для размещения громоздких или неправильной формы образцов. Позволяет проводить анализ поверхности полупроводников, материалов с ультра малыми размерами зерен, включений в сплавах. Снабжен EDX системой для качественного и количественного микроанализа поверхности. Модернизированный микроскоп с «GEMINI» колонной и с полевой эмиссией разработан для исследований в области наноанализа. Анализируемые объекты – порошки и компактные образцы. Минимальная навеска 2 мг. 

Характеристики:

• источник электронов Автоэмиссионный (термоэмиссионного типа)
• стабильность лучше, чем 0.2% в час
• разрешение 1,7 нм при 15 кВ, 3,5 нм при 1 кВ
• увеличение 12 – 500 000x
• ускоряющее напряжение  0,5 – 20 кВ
• камера 330 мм (Ø) х 270 мм (ч), 2 порта EDS 35 ° TOA, СCD-камера с ИК подсветкой
• 5-осевая моторизованная декартова ступень образца

     Х = 125 мм

     Y = 100 мм

     Z = 55 мм (35 мм с электроприводом)

     Т = 0 – 90 °

     R = 360 ° (непрерывно)

• вакуумная система полностью безмаслянная
• встроенная антивибрационная подвеска
• разрешение снимков 3072 x 2304 пикселей- шумоподавление: семь режимов интеграции и усреднения 

Назначение: для исследования структурных особенностей и топографии поверхности

Характеристики:

Увеличение	x20-x100 000 (эффективное: ~x50 000)
Ускоряющее напряжение	1 ~ 30 кВ (с шагом 1 кВ)
Электронная пушка	Вольфрамовый филамент (W)
Детекторы	SE