Рубрика: Рентгеноструктурный и фазовый анализ

Дифрактометр ДРОН УМ-2 укомплектован гониометром БГ-0 (Carl Zeiss, Германия), что позволяет получать дифрактограммы порошковых материалов с высоким угловым разрешением (0.003 градуса). Для управления дифрактометром, накопления данных и фазового анализа порошков используются персональные компьютеры и несколько баз данных, включающих в себя полную базу JCPDS до 1999 года включительно.

Имеющееся программное обеспечение позволяет выводить данные в стандарте, принятом для ICDD, а также уточнять параметры элементарной ячейки, рассчитывать теоретические дифрактограммы, определять величину области когерентного рассеяния. Для рентгенофазового анализа, как правило, достаточно 10 мг вещества.

Назначение 

Вертикальная дифракционная система тета:тета ARLX’TRA предназначена для проведения порошковых исследований. При использовании тета:тета гониометра проба остается неподвижной в горизонтальном положении, в то время как перемещаются рентгеновская трубка и детектор. Такая геометрия особенно рекомендуется для трудно устанавливаемых проб (порошки, жидкости, и т.д.). Дифрактометр снабжен программным обеспечением, позволяющим обрабатывать рентгеновские порошковые спектры, уточнять параметры элементарной ячейки, определять степень кристалличности, делать оценки размеров кристаллитов. 

Характеристики 

Диапазон углов 2θ: от -8° до 160°,  Система цифрового серво-привода высокого разрешения с оптическим декодором: точность декодера +/- 0.00025 градуса Коллиматорные щели Соллера: 1.15°Гибкая система щелей для отраженного излучения, постоянно подстраиваемой микрометром в диапазоне 0-10 мм. В качестве источника рентгеновского излучения используется: Cu рентгеновская трубка. Максимальная мощность: 2000 Вт. Регистрация рентгеновского излучения: Si полупроводниковый детектор Область линейной скорости счета детектора: до 50000 имп./сек. Внутренний фон: ниже 0.1 имп./сек (кпд составляет практически 100% для рентгеновского Cu K±). Анализируемые образцы: порошки (объемом не менее 0,7 см³) и компактные образцы с плоской поверхностью (размером не более 36*36*10 мм (длина, ширина, высота)). 

Aeris Malvern PANalytical B.V. (Нидерланды, 2020 г.)

Назначение:

Дифракционная система Aeris предназначена для регистрации порошковых рентгенограмм. Дифрактометр обеспечивает быстрый, надежный и точный анализ фазового состава материала для решения широкого круга задач. Необходим для отслеживания фаз в синтезированном материале, определения полиморфизма. Для того чтобы получить массив кристаллографической информации, достаточно просто собрать данные рентгеновской дифракции при помощи Aeris и использовать комплект программного обеспечения HighScore. 

Характеристики

Базовая система: Дифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ гониометром. Никелевые бета- фильтры (на прямой и дифрагированный пучки), приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм, щели Соллера 0.04 радиана

Диапазон углов 2θ от -3⁰ до 145⁰

Никелевые бета-фильтры (на прямой и дифрагированный пучки) 

Приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм

Щели Соллера: 0.04 радиана 

Назначения 

Монокристальный рентгеновский экваториальный четырехкружный дифрактометр P4 фирмы BRUKER предназначен для проведения рентгеновских экспериментов на монокристаллах. Дифрактометр обладает эйлеровской геометрией. Прибор снабжен программным обеспечением позволяющим определять и уточнять элементарную ячейку, симметрию, проводить эксперименты по набору массива рентгеновских отражений с последующей его обработкой. Полученные экспериментальные данные используются для расшифровки и уточнения кристаллической структуры. 

Характеристики 

Источник излучения: Mo рентгеновская керамическая трубка. Мощность трубки: 2000 Вт. Для монохроматизации рентгеновского излучения используется графитовый монохроматор. Регистрация отраженного излучения осуществляется стандартным сцинтилляционным точечным детектором. Прибор снабжен низкотемпературной азотной приставкой, работающей в области температур от -30°C до -173°С