Спектрофотометр сканирующий двухлучевой ультрафиолетовой и видимой области

Perkin Elmer Lambda 45 (США, 2007 г.) 

Назначение прибора:

Спектрометр Lambda 45 – универсальный спектрометр, работающий в ультрафиолетовом (УФ) и видимом (Vis) диапазонах спектра. Спектрометр предназначен для измерения коэффициентов отражения и пропускания оптических и неоптических покрытий и материалов, для многокомпонентного и химического анализа, количественного определения тяжелых металлов (наноматериалов) в воде. Оснащен кюветами различной длины и объема, держателями для твердых образцов и гелей. Позволяет измерять нестабильные образцы.

Технические характеристики:

Область длин волн 190–1100 нм

Поглощение: до 6,0 Abs

Спектральная ширина щели – Переменная 0.5, 1, 2, 4 нм

Рассеянный свет (220 нм NaI, 340 нм NaNO2) <0.005%

Точность установки длины волны (пик D при 656.1 нм) ±0.1 нм

Воспроизводимость установки длины волны ±0.05 нм

Фотометрическая точность ±0.001 А

Фотометрическая воспроизводимость < 0.001 А

Стабильность базовой линии (200 – 900 нм, 240 нм/мин)

±0.001 А (щель 1 нм)

±0.0005 А (щель 2 нм)

Дрейф нуля (500 нм) < 0.00015 А/ч

Уровень шума (500 нм) < 0.00005 А

Perkin Elmer Lambda 45 (США, 2007 г.) 

Назначение прибора:

Спектрометр Lambda 45 – универсальный спектрометр, работающий в ультрафиолетовом (УФ) и видимом (Vis) диапазонах спектра. Спектрометр предназначен для измерения коэффициентов отражения и пропускания оптических и неоптических покрытий и материалов, для многокомпонентного и химического анализа, количественного определения тяжелых металлов (наноматериалов) в воде. Оснащен кюветами различной длины и объема, держателями для твердых образцов и гелей. Позволяет измерять нестабильные образцы.

Технические характеристики:

Область длин волн 190–1100 нм

Поглощение: до 6,0 Abs

Спектральная ширина щели – Переменная 0.5, 1, 2, 4 нм

Рассеянный свет (220 нм NaI, 340 нм NaNO2) <0.005%

Точность установки длины волны (пик D при 656.1 нм) ±0.1 нм

Воспроизводимость установки длины волны ±0.05 нм

Фотометрическая точность ±0.001 А

Фотометрическая воспроизводимость < 0.001 А

Стабильность базовой линии (200 – 900 нм, 240 нм/мин)

±0.001 А (щель 1 нм)

±0.0005 А (щель 2 нм)

Дрейф нуля (500 нм) < 0.00015 А/ч

Уровень шума (500 нм) < 0.00005 А