|
Aeris Malvern PANalytical B.V. (Нидерланды, 2020 г.)Назначение: Дифракционная система Aeris предназначена для регистрации порошковых рентгенограмм. Дифрактометр обеспечивает быстрый, надежный и точный анализ фазового состава материала для решения широкого круга задач. Необходим для отслеживания фаз в синтезированном материале, определения полиморфизма. Для того чтобы получить массив кристаллографической информации, достаточно просто собрать данные рентгеновской дифракции при помощи Aeris и использовать комплект программного обеспечения HighScore. Характеристики Базовая система: Дифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ гониометром. Никелевые бета- фильтры (на прямой и дифрагированный пучки), приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм, щели Соллера 0.04 радиана Диапазон углов 2θ от -30 до 1450 Никелевые бета-фильтры (на прямой и дифрагированный пучки) Приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм Щели Соллера: 0.04 радиана |
Aeris Malvern PANalytical B.V. (Нидерланды, 2020 г.)
Назначение:
Дифракционная система Aeris предназначена для регистрации порошковых рентгенограмм. Дифрактометр обеспечивает быстрый, надежный и точный анализ фазового состава материала для решения широкого круга задач. Необходим для отслеживания фаз в синтезированном материале, определения полиморфизма. Для того чтобы получить массив кристаллографической информации, достаточно просто собрать данные рентгеновской дифракции при помощи Aeris и использовать комплект программного обеспечения HighScore.
Характеристики
Базовая система: Дифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ гониометром. Никелевые бета- фильтры (на прямой и дифрагированный пучки), приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм, щели Соллера 0.04 радиана
Диапазон углов 2θ от -30 до 1450
Никелевые бета-фильтры (на прямой и дифрагированный пучки)
Приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм
Щели Соллера: 0.04 радиана