Настольный растровый электронный микроскоп EM-30 (COXEM, Южная Корея)
|
Назначение: для исследования структурных особенностей и топографии поверхности Характеристики:
|
- Химический анализ 4
- Молекулярная спектрометрия 3
- Масс-спектрометрия 2
- Диэлектрическая спектрометрия 1
- Магнитометрия1
- Хроматография 3
Назначение: для исследования структурных особенностей и топографии поверхности
Характеристики:
| Увеличение | x20-x100 000 (эффективное: ~x50 000) |
| Ускоряющее напряжение | 1 ~ 30 кВ (с шагом 1 кВ) |
| Электронная пушка | Вольфрамовый филамент (W) |
| Детекторы | SE |