Опубликовано

Сверхпроводящий импульсный ЯМР 400 MHz Q.One Instruments Quantum-I Plus для жидких образцов, (Wuhan Zhongke Niujin Magnetic Resonance Technology Company Co. Ltd.”, Китай, 2024 г.)

Назначение

Регистрация спектров ЯМР на ядрах 1H, 13С, 19F, 31P, 14N, 15N, 17O, 7Li, 23Na, 39K, 85Rb, 133Cs, 29Si, 77Se, 195Pt, и др., включая гомо- и гетероядерные двумерные методики. Для проведения экспериментов с развязкой Х-ядер от 1Н (13С(1Н), 19F(1H), 31P(1H), 29Si(1H), 15N(1H) и.т.п.) и, наоборот, 1H от X ядер (1Н(19F), 1H(31P) и т.п.). Для измерения характерных времен спин-спиновой и спин-решеточной релаксаций. 

Основные области применений: 

  • Определение молекулярного строения органических, элемент-органических, неорганических и природных соединений
  • Подтверждение идентичности и определение степени чистоты химических соединений
  • Определение трехмерного строения молекул и конформационный анализ
  • Изучение межмолекулярных взаимодействий и супрамолекулярных структур
  • Изучение механизмов химических реакций
  • Измерение скоростей быстрых химических превращений, определение констант равновесия
  • Исследование динамических процессов, в том числе спиновой динамики

Характеристики

Рабочая частота спектрометра 400 MHz (1H);

Диаметр трубы теплового отверстия 51 мм.;

Диапазон температур: от -40 до 1500С;

2 независимых частотных канала (1Н/19F и X ядра (15N-31P));

Мощность предусилителей радиочастотных импульсов: 70 Вт (для 1Н, 19F) и 320 Вт (для X-ядер);

Стабилизация магнитного поля по сигналу атомов дейтерия;

Разрешение на ядрах 1H (ширина сигнала линии хлороформа на 50 % высоты), Гц, не более 0,5;

Чувствительность: 500:1 (в 1Н спектре калибровочного образца – 0,1% этиленбензоле в CDCl3).

Минимальный объем 0.5 мл раствора. Концентрация от 0.01 мг/мл для 1Н ЯМР спектра, >0.1 мг/мл для 19F, >1мг/мл для 31P, для 13С > 10мг/мл, 15N> 80 мг/мл.

Время эксперимента от 5 мин до суток. 1Н менее часа, 13С от часа, 15N>10 часов, 2D корреляции от 20 мин до 3 часов (иногда дольше).

Опубликовано

Элементный анализатор для определения содержания химических элементов CHNS-O, Velp EMA 502, (VELP Scientifica, Италия, 2023 г.)

Назначение

Предназначен для определения содержания углерода, водорода, азота, серы, кислорода (C, H, N, S, O) в органических веществах методом сжигания при 1100°С в присутствии чистого кислорода с последующим восстановлением оксидов и разделением на хроматографической колонке. Определение элементов осуществляется на основе содержания в продуктах сгорания СО2, N2, H2O, SO2. Регистрация сигнала каждого оксида проводится на детекторе теплопроводности. Определение кислорода проводиться методом пиролиза с последующим определением СО.

EMA 502 элементный анализатор CHNS-O широко применяется для в различных отраслях, таких как фармацевтика и биотехнологии, органическая химия, нефтехимия, энергетика, экология, агрономия, продукты питания. Анализирует твердые, полутвердые и жидкие образцы с содержанием углерода до 20 мг и минимизирует эксплуатационные расходы благодаря оригинальным расходным материалам VELP, изготовленным для максимально длительного срока службы.

Характеристики

Диапазоны измерения: C: 0.001 – 20 мг с гелием

H: 0.001 – 5 мг с гелием

N: 0.001 – 20 мг с гелием

S: 0.01 – 6 мг с гелием

O: 0.005 – 6 мг с гелием

Точность: ≤ 0.2 %

Газ-носитель: Гелий (класс 4.5)

Газ для горения: Кислород (класс 4.5)

Возможность подключения: Облачная платформа Ermes через Wi-Fi или локальную сеть, подключенную к ПК

Вес образца: До 100 мг (в зависимости от содержания С)

Емкость автодозатора: 30 позиций (4 диска) Температура сгорания: 10500 С

Опубликовано

Прибор OCA 20 для измерения краевого угла смачивания (DataPhysics, Германия)

Оптический прибор с видеоподдержкой для измерения краевого угла OCA 20 является самым разносторонним прибором для измерения краевого угла смачивания и анализа контура капли.

Программное обеспечение для OCA 15Pro включает следующие функции:
SCA 20 — угол смачивания
SCA 21 — энергия поверхности
SCA 22 — поверхностное натяжение и натяжение на границе раздела фаз
SCA 23 — контур ламели
SCA 26 — осцилляция/релаксация

Опубликовано

Реометр MCR 702 TwinDrive (Anton Paar GmbH, США, 2021 г)

Реометр MCR 702 TwinDrive способен покрыть и решить любые реологические
задачи и приложения. Данный реометр может работать как в режиме контролируемой
скорости сдвига, так и напряжения сдвига. Это самая мощная и универсальная платформа
для динамического механического анализа твердых, мягких и жидких образцов.
Уникальная концепция позволяет выполнять динамический механический анализ при
изгибе, растяжении, сжатии и кручении, а также термомеханический анализ (TMA),
стандартные и высокоспецифические реологические измерения с помощью одного
прибора.

Основные технические характеристики:

Минимальный момент, вращение1 нНм
Минимальный момент, осцилляция0,5 нНм
Максимальный момент230 мНм
Минимальная угловая скорость10-9 рад/с
Максимальная угловая скорость314 рад/с
Угловое отклонение, задаваемое значениеот 0,05 до ∞ мкрад
Минимальная угловая частота10-7 рад/с
Максимальная угловая частота628 рад/с
Разрешение момента0,5 нНм
Угловое отклонение, разрешение0,01 мкрад
Диапазон нормальной силы0,005 – 50 Н
Разрешение нормальной силы0,5 мН
Диапазон рабочих температурот -160 до 600о С (в зависимости от
используемой измерительной системы)
Источник УФ излучения320-500 нм

Измерительные системы:

  • Система коаксиальных цилиндров;
  • Система «конус-плоскость»;
  • Система «плоскость-плоскость»;
  • Системы для динамического механического анализа (кантилевер, барабаны);
  • Ячейка для изучения реологии фотоотверждаемых материалов при длине 320-500 нм.

Решаемые задачи:

  • Регистрация кривой вязкости в широком диапазоне скоростей сдвига;
  • Регистрация кривой течения в широком диапазон скоростей сдвига;
  • Изучение реологии расплавов, низковязких жидкостей, вязкоупругих и пастообразных образцов, растворов полимеров;
  • Измерение текучести: предела текучести, напряжения течения, межфазной вязкости для герметиков, адгезивов, смазок.
  • Измерениеплощади гистерезиса: измерение напряжения сдвига и вязкости при увеличении скорости сдвига с последующим ее понижением;
  • Определение модуля релаксации;
  • Измерение ползучести у расплава, геля, пастоподобных веществ, высокоэластичных жидкостей, низковязких жидкостей;
  • Измерение модуля релаксации у расплава полимера или эластомера;
  • Исследование зависимости вязкости от температуры для образца, претерпевающего плавление и кристаллизацию при постоянной скорости сдвига;
  • Измерения реологических свойств материалов при развертке по амплитуде и частоте (осцилляционный режим);
  • Исследование процессов отверждения термореактивных олигомеров и полимеров при различных температурных режимах;
  • Исследование процессов отверждения термореактивных олигомеров и полимеров под действием УФ излучения;
  • Исследование стабильности эмульсий при высокой и низкой температуре от – 160 до 600 °С;
  • Проведение динамического механического анализа на измерительных системахкантилевер и барабанах для пленок, волокон и прямоугольных образцов в линейном и вращательном режимах.
Опубликовано

Безжидкостная система CFMS (Cryogenic Limited, Великобритания, 2021 г.)

Безжидкостная система CFMS позволяет исследовать магнитные свойства материалов в полях до 9 Тесла в интервале температур 1.6 – 400 К в режимах постоянного (DC) и переменного (AC – измерения) поля. Установка оснащена дополнительным модулем, позволяющим измерять электрическое сопротивление и эффект Холла.

Общие характеристики системы

Диапазон магнитного поля± 9 Тесла
Диапазон рабочих температур1,6К – 400К
Модуль магнитометра с вибрирующим образцом
Частота вибрацииНе менее 20 Гц
Среднеквадратичный шум при постоянном времени 1 сНе более 10-6 emu
Модуль восприимчивости к переменному току
Чувствительность при 1 КГц при температуре 4 КНе менее 10-7 emu
Стандартный диапазон частот1 Гц – 20 кГц
Амплитуда переменного поля при 10 ГцНе менее 5 мТл
Опубликовано

Cканирующий лазерный конфокальный Рамановский микроскоп со спектрометром, Confotec® NR500 (SOLinstruments)

Характеристики:

Пространственное разрешение: горизонтальное до 200 нм; осевое до 500 нм.
Широкий спектральный диапазон:
785 нм: 50 — 3700 см-1;
633 нм: 60 — 6700 см-1;
532 нм: 150 — 10000 см-1
Специальный монохроматор-спектрограф с уникальными характеристиками: Спектральное разрешение 0.25 см-1
Абсолютная точность по длине волны: не хуже 0.016 нм.
Площадь сканирования: 150 х 150 мкм. Система сканирования позволяет осуществлять быстрое
сканирование (1001 х 1001 точек за 3 секунды). Точность позиционирования 30 нм
Одновременный многофункциональный анализ:
– Рамановские измерения;
– люминесцентные измерения;
– измерения лазерного отражения и пропускания;
– трехмерные (3D) высококонтрастные изображения в отраженном свете; трехмерные (3D) Рамановские конфокальные измерения;
– информация о спектральных и поляризационных свойствах образцов

Области применения

  • Анализ химического состава и физической структуры функциональных материалов, а также нано- и гетероструктур на их основе.
  • Изучение химических и физических свойств новых материалов, определение напряжений и
    деформаций, оценка упорядоченности структуры.
  • Идентификация материалов, определение фазового состава и распределения по образцу.
  • Контроль процессов нанесения покрытий и исследования полимерных материалов, включая
    нанопленки.
  • Многообразные приложения в биологии, в частности исследование тканей, клеток, раковых
    образований, результатов применения лекарственных препаратов
Опубликовано

Ближнепольный оптический сканирующий микроскопFTIR-neaSNOM (США, 2020 г)

Возможности прибора:

Микроскоп FTIR-neaSNOM позволяет одновременно исследовать наноструктуру и
спектральные свойства широкого круга объектов. Он позволяет объединить
преимущества нескольких методов: оптической спектроскопии в видимом и ИК
диапазонах длин волн от 400 нм до 15,4 мкм, терагерцовой спектроскопии (волны
0.1-1.0 мм) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) с латеральным разрешением
сканирования до 1 нм и вертикальным разрешением 0.2 нм. Возможности прибора
позволяют получать спектральную информацию даже с единичной молекулы!
Данный прибор является, по сути, единственным эффективным методом
исследования структуры и физико-химических свойств поверхности образца с
одновременным получением спектральной информации о его составе.
Данный микроскоп позволит исследовать любые объекты, с которых можно снять
информативный ИК спектр (фактически весь набор органических и
неорганических соединений), получая информацию о их составе и структуре на
наноуровне.

Технические характеристики и назначение:

Доступный
диапазон длин
волн:		0.5 – 20 мкм с возможностью расширения видимого
диапазона до 0.4 мкм, а также работы в терагерцовом
диапазоне (0.1-3.0 THz)
Диапазон
регистрации
спектров ИК		500-4000 см-1
Разрешение
сканирования:		Латеральное – предельное 0.4 нм (реальное зависит от
зонда, в рутинных измерениях 10-15 нм)
Вертикальное – 0.2 нм
Режимы
сканирования:		Контактные, полуконтактные.
Круг исследуемых
объектов:		Полупроводники, оксиды металлов, полимеры,
практически любые органические и неорганические тонкие
пленки, пластины, кристаллы, биомолекулы.
Получаемые на
микроскопе данные		Топография поверхности
Фазовый контраст
Магнитные свойства и доменная структура материалов с
нанометровым разрешением;
Локальная твердость образцов с нанометровым
разрешением;
Измерение вязкости и картирование по поверхности с
нанометровым разрешением;
Локальное распределение потенциала (работа выхода) и
локальная электропроводность (conductive AFM);
Реальное распределение носителей зарядов в образцах
полупроводниковых материалов;
ИК-спектры с любой точки поверхности + картирование
поверхности по любым выбранным полосам в ИК-спектре с
латеральным разрешение не хуже 15 нм;
Опубликовано

Конфокальный сканирующий лазерный микроскоп Optelics Hybrid, (Lasertec Corporation, Япония, 2021 г.)

Многофункциональный микроскоп, оснащенный двумя комплектами оптики(лазерное излучение с длиной волны 405 нм и источник белого цвета), позволяет решать следующие задачи:

  • получение конфокальных изображений с широким полем обзора и высоким разрешением с возможностью выбора оптимального источника излучения с 6 различными длинами волн;
  • наблюдение в режиме реального времени жидких и иных образцов;
  • измерение высот на наноразмерном уровне в поле обзора, измеряемом в миллиметрах с использованием интерференционных методов;
  • измерение толщин (более 1 мкм) прозрачных пленок с использованием принципов спектроскопической рефлектрометрии;
  • определение параметров шероховатости в 2-х и 3–х измерениях согласно стандартам ISO и JIS.

Основные технические данные

Источник видимого светаКсеноновая лампа
Источник лазерного излученияПолупроводниковый лазер 405 нм
Измерения в плоскости XYТочность: ±[0.02*(100/Увеличение
объектива)+L/1000], мкм
Воспроизводимость:10 нм
Измерения по оси ZТочность:±(0.11+L/100), мкм
Воспроизводимость: 10 нм
Диапазон измерения: 7 мм
Опубликовано

Импульсный спектрометр ЭПР Х-диапазона ZT15P (Zhongtai, Китай, 2023)

Назначение:

Импульсные методы позволяют измерять времена спин-спиновой и спин-решеточной релаксации, расшифровывать сложные спектры ЭПР неоднородных систем, используя различие их динамических характеристик, оценивать расстояния между парамагнитными центрами, между парамагнитным ионом и окружающими ядрами и многое другое.   

Характеристики:

•Рабочая частота (X-диапазон): 9,2…9,9 ГГц

•Число импульсных каналов: 8 шт.

•Мощность СВЧ генератора:источник волн (700мВт),волновод(200мВт)

•Выходная мощность твердотельного усилителя мощности: 450 Вт

•Ослабление мощности микроволнового излучения: 0…60 дБ, шаг 1 дБ

•Резонаторы:    цилиндрический    TE011,    диэлектрический  TE011  CW-режима,  диэлектрический  импульсного режима,

•Амплитуда модуляции магнитного поля: 0…20 Гс

•Максимальное  магнитное поле: 1,8 Тл

•Частота модуляции магнитного поля: 6,25-100 кГц

•Абсолютная чувствительность: 3*1013 спин/Тл 

•Интервал регулируемых температур: 4…300 К

•Разрешение времени импульса микроволнового источника: 50 пс

•Минимальная длина импульса π/2: 8 нс

Опубликовано

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500SOLinstruments (Беларусь, 2022 г.)

Назначение

Атомно-эмиссионный спектрометр позволяет проводить определение элементного состава любых твердых проб. Принцип работы основан на детектировании оптического эмиссионного спектра плазмы анализируемого вещества, создаваемой лазерными наносекундными импульсами.

Технические характеристики:

Определяемые элементыот H до U
Диапазон измеренияот 0.01 ppм (Li) до 100%
Область спектральной
чувствительности		185-1100 нм
Спектральное разрешение0.028 нм
Место проведения анализана воздухе или в среде аргона
Наблюдение поверхности образцавыбор любой точки или зоны для анализа