Оптический прибор с видеоподдержкой для измерения краевого угла OCA 20 является самым разносторонним прибором для измерения краевого угла смачивания и анализа контура капли.
Программное обеспечение для OCA 15Pro включает следующие функции:
SCA 20 — угол смачивания
SCA 21 — энергия поверхности
SCA 22 — поверхностное натяжение и натяжение на границе раздела фаз
SCA 23 — контур ламели
SCA 26 — осцилляция/релаксация
Реометр MCR 702 TwinDrive способен покрыть и решить любые реологические
задачи и приложения. Данный реометр может работать как в режиме контролируемой
скорости сдвига, так и напряжения сдвига. Это самая мощная и универсальная платформа
для динамического механического анализа твердых, мягких и жидких образцов.
Уникальная концепция позволяет выполнять динамический механический анализ при
изгибе, растяжении, сжатии и кручении, а также термомеханический анализ (TMA),
стандартные и высокоспецифические реологические измерения с помощью одного
прибора.
Основные технические характеристики:
| Минимальный момент, вращение | 1 нНм |
| Минимальный момент, осцилляция | 0,5 нНм |
| Максимальный момент | 230 мНм |
| Минимальная угловая скорость | 10-9 рад/с |
| Максимальная угловая скорость | 314 рад/с |
| Угловое отклонение, задаваемое значение | от 0,05 до ∞ мкрад |
| Минимальная угловая частота | 10-7 рад/с |
| Максимальная угловая частота | 628 рад/с |
| Разрешение момента | 0,5 нНм |
| Угловое отклонение, разрешение | 0,01 мкрад |
| Диапазон нормальной силы | 0,005 – 50 Н |
| Разрешение нормальной силы | 0,5 мН |
| Диапазон рабочих температур | от -160 до 600о С (в зависимости от используемой измерительной системы) |
| Источник УФ излучения | 320-500 нм |
Измерительные системы:
Решаемые задачи:
Безжидкостная система CFMS позволяет исследовать магнитные свойства материалов в полях до 9 Тесла в интервале температур 1.6 – 400 К в режимах постоянного (DC) и переменного (AC – измерения) поля. Установка оснащена дополнительным модулем, позволяющим измерять электрическое сопротивление и эффект Холла.
Общие характеристики системы
| Диапазон магнитного поля | ± 9 Тесла |
| Диапазон рабочих температур | 1,6К – 400К |
| Модуль магнитометра с вибрирующим образцом | |
| Частота вибрации | Не менее 20 Гц |
| Среднеквадратичный шум при постоянном времени 1 с | Не более 10-6 emu |
| Модуль восприимчивости к переменному току | |
| Чувствительность при 1 КГц при температуре 4 К | Не менее 10-7 emu |
| Стандартный диапазон частот | 1 Гц – 20 кГц |
| Амплитуда переменного поля при 10 Гц | Не менее 5 мТл |
Характеристики:
Пространственное разрешение: горизонтальное до 200 нм; осевое до 500 нм.
Широкий спектральный диапазон:
785 нм: 50 — 3700 см-1;
633 нм: 60 — 6700 см-1;
532 нм: 150 — 10000 см-1
Специальный монохроматор-спектрограф с уникальными характеристиками: Спектральное разрешение 0.25 см-1
Абсолютная точность по длине волны: не хуже 0.016 нм.
Площадь сканирования: 150 х 150 мкм. Система сканирования позволяет осуществлять быстрое
сканирование (1001 х 1001 точек за 3 секунды). Точность позиционирования 30 нм
Одновременный многофункциональный анализ:
– Рамановские измерения;
– люминесцентные измерения;
– измерения лазерного отражения и пропускания;
– трехмерные (3D) высококонтрастные изображения в отраженном свете; трехмерные (3D) Рамановские конфокальные измерения;
– информация о спектральных и поляризационных свойствах образцов
Области применения
Возможности прибора:
Микроскоп FTIR-neaSNOM позволяет одновременно исследовать наноструктуру и
спектральные свойства широкого круга объектов. Он позволяет объединить
преимущества нескольких методов: оптической спектроскопии в видимом и ИК
диапазонах длин волн от 400 нм до 15,4 мкм, терагерцовой спектроскопии (волны
0.1-1.0 мм) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) с латеральным разрешением
сканирования до 1 нм и вертикальным разрешением 0.2 нм. Возможности прибора
позволяют получать спектральную информацию даже с единичной молекулы!
Данный прибор является, по сути, единственным эффективным методом
исследования структуры и физико-химических свойств поверхности образца с
одновременным получением спектральной информации о его составе.
Данный микроскоп позволит исследовать любые объекты, с которых можно снять
информативный ИК спектр (фактически весь набор органических и
неорганических соединений), получая информацию о их составе и структуре на
наноуровне.
Технические характеристики и назначение:
| Доступный диапазон длин волн: | 0.5 – 20 мкм с возможностью расширения видимого диапазона до 0.4 мкм, а также работы в терагерцовом диапазоне (0.1-3.0 THz) |
| Диапазон регистрации спектров ИК | 500-4000 см-1 |
| Разрешение сканирования: | Латеральное – предельное 0.4 нм (реальное зависит от зонда, в рутинных измерениях 10-15 нм) Вертикальное – 0.2 нм |
| Режимы сканирования: | Контактные, полуконтактные. |
| Круг исследуемых объектов: | Полупроводники, оксиды металлов, полимеры, практически любые органические и неорганические тонкие пленки, пластины, кристаллы, биомолекулы. |
| Получаемые на микроскопе данные | Топография поверхности Фазовый контраст Магнитные свойства и доменная структура материалов с нанометровым разрешением; Локальная твердость образцов с нанометровым разрешением; Измерение вязкости и картирование по поверхности с нанометровым разрешением; Локальное распределение потенциала (работа выхода) и локальная электропроводность (conductive AFM); Реальное распределение носителей зарядов в образцах полупроводниковых материалов; ИК-спектры с любой точки поверхности + картирование поверхности по любым выбранным полосам в ИК-спектре с латеральным разрешение не хуже 15 нм; |
Многофункциональный микроскоп, оснащенный двумя комплектами оптики(лазерное излучение с длиной волны 405 нм и источник белого цвета), позволяет решать следующие задачи:
Основные технические данные
| Источник видимого света | Ксеноновая лампа |
| Источник лазерного излучения | Полупроводниковый лазер 405 нм |
| Измерения в плоскости XY | Точность: ±[0.02*(100/Увеличение объектива)+L/1000], мкм Воспроизводимость:10 нм |
| Измерения по оси Z | Точность:±(0.11+L/100), мкм Воспроизводимость: 10 нм Диапазон измерения: 7 мм |
Назначение:
Импульсные методы позволяют измерять времена спин-спиновой и спин-решеточной релаксации, расшифровывать сложные спектры ЭПР неоднородных систем, используя различие их динамических характеристик, оценивать расстояния между парамагнитными центрами, между парамагнитным ионом и окружающими ядрами и многое другое.
Характеристики:
•Рабочая частота (X-диапазон): 9,2…9,9 ГГц
•Число импульсных каналов: 8 шт.
•Мощность СВЧ генератора:источник волн (700мВт),волновод(200мВт)
•Выходная мощность твердотельного усилителя мощности: 450 Вт
•Ослабление мощности микроволнового излучения: 0…60 дБ, шаг 1 дБ
•Резонаторы: цилиндрический TE011, диэлектрический TE011 CW-режима, диэлектрический импульсного режима,
•Амплитуда модуляции магнитного поля: 0…20 Гс
•Максимальное магнитное поле: 1,8 Тл
•Частота модуляции магнитного поля: 6,25-100 кГц
•Абсолютная чувствительность: 3*1013 спин/Тл
•Интервал регулируемых температур: 4…300 К
•Разрешение времени импульса микроволнового источника: 50 пс
•Минимальная длина импульса π/2: 8 нс
Назначение
Атомно-эмиссионный спектрометр позволяет проводить определение элементного состава любых твердых проб. Принцип работы основан на детектировании оптического эмиссионного спектра плазмы анализируемого вещества, создаваемой лазерными наносекундными импульсами.
Технические характеристики:
| Определяемые элементы | от H до U |
| Диапазон измерения | от 0.01 ppм (Li) до 100% |
| Область спектральной чувствительности | 185-1100 нм |
| Спектральное разрешение | 0.028 нм |
| Место проведения анализа | на воздухе или в среде аргона |
| Наблюдение поверхности образца | выбор любой точки или зоны для анализа |
Назначение
Спектрометр предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры.
Технические характеристики
