Опубликовано

Спектрофотометр сканирующий двухлучевой ультрафиолетовой и видимой области

Perkin Elmer Lambda 45 (США, 2007 г.) 

Назначение прибора:

Спектрометр Lambda 45 — универсальный спектрометр, работающий в ультрафиолетовом (УФ) и видимом (Vis) диапазонах спектра. Спектрометр предназначен для измерения коэффициентов отражения и пропускания оптических и неоптических покрытий и материалов, для многокомпонентного и химического анализа, количественного определения тяжелых металлов (наноматериалов) в воде. Оснащен кюветами различной длины и объема, держателями для твердых образцов и гелей. Позволяет измерять нестабильные образцы.

Технические характеристики:

Область длин волн 190–1100 нм

Поглощение: до 6,0 Abs

Спектральная ширина щели — Переменная 0.5, 1, 2, 4 нм

Рассеянный свет (220 нм NaI, 340 нм NaNO2) <0.005%

Точность установки длины волны (пик D при 656.1 нм) ±0.1 нм

Воспроизводимость установки длины волны ±0.05 нм

Фотометрическая точность ±0.001 А

Фотометрическая воспроизводимость < 0.001 А

Стабильность базовой линии (200 – 900 нм, 240 нм/мин)

±0.001 А (щель 1 нм)

±0.0005 А (щель 2 нм)

Дрейф нуля (500 нм) < 0.00015 А/ч

Уровень шума (500 нм) < 0.00005 А

Опубликовано

ИК-фурье спектрометр SPECTRUM TWO (PerkinElmer)

оснащенный приставкой НПВО (США, 2020 г.)

Назначение прибора:

ИК-фурье спектрометр предназначен для регистрации инфракрасных спектров поглощения, пропускания и отражения веществ. Используя оптическую схему от старших моделей спектрометров, в т.ч. и запатентованную конструкцию интерферометра, Dynascan устойчивую к вибрациям, система Spectrum Two является полноценным инфракрасным спектрометром без каких-либо компромиссов в вопросах функциональности и технических характеристик. Оптика OpticsGuard дает возможность использовать прибор при повышенной влажности (до 90%). Спектрометр может быть сконфигурирован для анализа твердых, жидких и газообразных образцов.

Технические характеристики:

Спектральный диапазон: 8300 — 350 см‐1 (KBr)

Разрешение: не более 0,5cм-1

Соотношение сигнал / шум: 14500:1 (5 с сканирования фона и образца, 4см-1 разрешение) или 50000:1 (1 мин сканирования)

Приставка НПВО: 1 отражение, алмаз/ZNSE

Опубликовано

Рентгеноструктурный и фазовый анализ

Рентгеновский порошковый дифрактометр ARL X’TRA

Рентгеновский порошковый дифрактометр

Монокристальный рентгеновский дифрактометр P4 BRUKER

Опубликовано

Рентгеновский порошковый дифрактометр ARL X’TRA

Назначение 

Вертикальная дифракционная система тета:тета ARLX’TRA предназначена для проведения порошковых исследований. При использовании тета:тета гониометра проба остается неподвижной в горизонтальном положении, в то время как перемещаются рентгеновская трубка и детектор. Такая геометрия особенно рекомендуется для трудно устанавливаемых проб (порошки, жидкости, и т.д.). Дифрактометр снабжен программным обеспечением, позволяющим обрабатывать рентгеновские порошковые спектры, уточнять параметры элементарной ячейки, определять степень кристалличности, делать оценки размеров кристаллитов. 

Характеристики 

Диапазон углов 2θ: от -8° до 160°,  Система цифрового серво-привода высокого разрешения с оптическим декодором: точность декодера +/- 0.00025 градуса Коллиматорные щели Соллера: 1.15°Гибкая система щелей для отраженного излучения, постоянно подстраиваемой микрометром в диапазоне 0-10 мм. В качестве источника рентгеновского излучения используется: Cu рентгеновская трубка. Максимальная мощность: 2000 Вт. Регистрация рентгеновского излучения: Si полупроводниковый детектор Область линейной скорости счета детектора: до 50000 имп./сек. Внутренний фон: ниже 0.1 имп./сек (кпд составляет практически 100% для рентгеновского Cu K±). Анализируемые образцы: порошки (объемом не менее 0,7 см3) и компактные образцы с плоской поверхностью (размером не более 36*36*10 мм (длина, ширина, высота)). 

Опубликовано

Рентгеновский порошковый дифрактометр

Aeris Malvern PANalytical B.V. (Нидерланды, 2020 г.)

Назначение:

Дифракционная система Aeris предназначена для регистрации порошковых рентгенограмм. Дифрактометр обеспечивает быстрый, надежный и точный анализ фазового состава материала для решения широкого круга задач. Необходим для отслеживания фаз в синтезированном материале, определения полиморфизма. Для того чтобы получить массив кристаллографической информации, достаточно просто собрать данные рентгеновской дифракции при помощи Aeris и использовать комплект программного обеспечения HighScore. 

Характеристики

Базовая система: Дифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ гониометром. Никелевые бета- фильтры (на прямой и дифрагированный пучки), приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм, щели Соллера 0.04 радиана

Диапазон углов 2θ от -30 до 1450

Никелевые бета-фильтры (на прямой и дифрагированный пучки) 

Приставка вращения образцов для держателей 51.5 мм

Щели Соллера: 0.04 радиана 

Опубликовано

Монокристальный рентгеновский дифрактометр P4 BRUKER

Назначения 

Монокристальный рентгеновский экваториальный четырехкружный дифрактометр P4 фирмы BRUKER предназначен для проведения рентгеновских экспериментов на монокристаллах. Дифрактометр обладает эйлеровской геометрией. Прибор снабжен программным обеспечением позволяющим определять и уточнять элементарную ячейку, симметрию, проводить эксперименты по набору массива рентгеновских отражений с последующей его обработкой. Полученные экспериментальные данные используются для расшифровки и уточнения кристаллической структуры. 

Характеристики 

Источник излучения: Mo рентгеновская керамическая трубка. Мощность трубки: 2000 Вт. Для монохроматизации рентгеновского излучения используется графитовый монохроматор. Регистрация отраженного излучения осуществляется стандартным сцинтилляционным точечным детектором. Прибор снабжен низкотемпературной азотной приставкой, работающей в области температур от -30°C до -173°С

Опубликовано

Спектрометр атомно-абсорбционный AAS-3 (Германия 1988 г.)

Назначение

Предназначен для количественного определения содержания различных элементов (преимущественно металлов) в водных растворах, биопробах, в атмосферном воздухе, почвах. Работает по принципу спектрально-селективного поглощения излучения атомов определяемого элемента с использованием пламенной атомизации. 

Характеристики

Анализируемые элементы: Li, Na, K, Cu, Rb, Ag, Cs, Au, Mg, Ca, Zn, Cd, Ga, In, Pb, Sb, Bi, Mn, Fe, Co, Ni, Ru, Pt, Pd, Ir.Тип пламени «ацетилен — воздух». Рабочий спектральный диапазон: 190-865 нм. Спектральное разрешение: 2 нм. Пределы обнаружения для различных элементов: 1 — 50 пг. Погрешность: 5%

Результаты, полученные на этом оборудовании

Опубликовано

Элементный CHNOS анализатор

Аналитический центр коллективного пользования оснащен двумя CHNS анализаторами для ускорения работы. Оба анализатора Vario Elementar GmbH 2008 и 2016 годов.

Назначение

Прибор для определения содержания углерода, водорода, азота, серы, кислорода (C, H, N, S, O) в органических веществах методом сжигания при 1150°С в присутствии чистого кислорода с последующим восстановлением оксидов и разделением на хроматографической колонке. Определение элементов осуществляется на основе содержания в продуктах сгорания СО2, N2, H2O, SO2. Регистрация сигнала каждого оксида проводится на детекторе теплопроводности. Определение кислорода проводиться методом пиролиза с последующим определением СО. 

Характеристики

Углерод: 0.001 — 40 мг;

Азот: 0.001 — 15 мг;

Водород: 0.001 — 3 мг;

Сера: 0.001 — 6 мг;

Кислород: 0.001 — 6 мг;

Предел обнаружения  < 40 ppm

Стандартное отклонение результатов  не более 0.1%

Минимальная навеска образца 10 мг (порошок или жидкость)

Опубликовано

Химический анализ

Элементный анализатор для определения содержания химических элементов CHNS-O, Velp EMA 502, (VELP Scientifica, Италия, 2023 г.)

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500SOLinstruments (Беларусь, 2022 г.)

Вакуумный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр СПЕКТРОСКАН МАКС-GVM (Россия, 2022 г.)

Спектрометр атомно-абсорбционный AAS-3 (Германия 1988 г.)

Элементный CHNOS анализатор

Опубликовано

Уникальная научная установка «Широкополосный фотодиэлектрический спектрометр»

Основное направление деятельности

Измерения фотодиэлектрических параметров и фотопроводимости образцов в полупроводниковых материалах. Для анализа закономерностей имеется программное обеспечение для разделение вкладов сквозной проводимости и электрической дипольной релаксации (WinFit 2.9).

Параметры установки:
Диапазон частот: 10-3 ÷ 105 Гц.
Температур: 113-573 К.
Стабилизация температуры происходит при помощи криостатной системы Quatro, точностью температуры в экспериментах до 0.01 К.
Образцы освещаются монохроматическим светом с помощью оптического стенда содержащего ксеноновую лампу ДКСШ-1000 и монохроматор ЗМР-3. Длинны волн света 320-2000 нм.

«Перечень имеющихся методик: Измерения спектров электрической дипольной релаксации и их изменений под действием света»

Документы:

Приказ о создании УНУ «Широкополосный фотодиэлектрический спектрометр»

Положение об  УНУ «Широкополосный фотодиэлектрический спектрометр»

Регламент доступа к оборудованию УНУ «Широкополосный фотодиэлектрический спектрометр»

Порядок конкурсного отбора заявок и выполнения работ в УНУ «Широкополосный фотодиэлектрический спектрометр»

Договор об оказании услуг

Форма заявки на выполнение работ и оказание услуг для проведения научных исследований, а также осуществления экспериментальных разработок

Сведения о календарной загрузке научного оборудования

Сведения о календарной загрузке научного оборудования за 2025 г.
Сведения о календарной загрузке научного оборудования за 2026 г.

План работы УНУ

План работы УНУ за 2025 г.
План работы УНУ за 2026 г

Контакты:

По вопросам  календарной загрузке УНУ, текущем  плане работ, а также о порядке расчета стоимости нестандартных услуг обращаться:

Руководитель УНУ: к.ф.-м.н. Рабенок Евгения Витальевна
Тел./факс: (49652)21842
e-mail: rabenokev@icp.ac.ru